主页 > 资讯 > Micro LED > 为保证并进步Micro LED显现器良率,检测与修正仍是大应战

为保证并进步Micro LED显现器良率,检测与修正仍是大应战

来历:LEDinside 时刻:2019-06-14 11:33 [修改:JamesWen] 【字体: 】 我来说两句

为了进步并保证Micro LED显现器的良率,检测与修正是制程中不可或缺的要害步骤。但是,对努力于出产Micro LED显现器的厂商来说,检测并修正巨量而细微的Micro LED芯片,依然是一项艰巨应战。

LED测验包含光致发光测验(Photoluminescence; PL)及电致发光测验(Electroluminescence; EL),前者能在不触摸且不损坏LED芯片的情况下,对LED芯片进行测验,但检测作用跟EL测验比较略为差劲,无法的确发现一切瑕疵,或许下降后续的出产良率。相反的,EL测验透过通电LED芯片来进行测验,可以找出更多缺点,却或许因触摸而形成芯片损害。而Micro LED因为芯片体积过小,难以适用传统测验设备,以EL检测的难度适当高,但PL测验又或许呈现遗失,形成检测功率欠安。

因而,技能开发人员与设备制造商持续精进研制巨量测验技能,以进步检测功率,一起防止损及芯片。厦门大学与新竹交大的研讨团队合力研制了一种拍摄机型显微成像体系作Micro LED测验运用,该体系结合了计算机、电流、数位拍摄机、电流供给棒与显微镜调配援助软件,可以捕捉并剖析显微镜印象,丈量 Micro LED芯片的亮度。

设备专门厂柯尼卡美能达集团(Konica Minolta Group)也现已过德国 Instrument Systems 和美国瑞淀光学体系(Radiant Vision Systems)两家隶属公司着手开发Micro LED与Mini LED检测体系,该集团所涉范畴广泛,包含伽玛校对、均匀度与LED芯片检测等。

因为Micro LED晶粒体积小,如安在挑出缺点晶粒之后有用修理并替换,也成了一项艰巨使命。Micro LED显现器厂商现在运用的修正方案包含紫外线照耀修理技能、雷射融断修理技能、选择性拾取修理技能、选择性雷射修理技能及备援电路设计方案。

美国新创公司Tesoro提出制程检测方案,结合了非触摸型EL测验与波束定位 (BAR) 的搬运办法,可以只将好的Micro LED芯片高速搬运到方针基板上。

来历:Tesoro

日本设备厂Toray则推出Micro LED检修解决方案,以光线主动检测东西进行零触摸检测,检测完今后运用其雷射修剪东西,依据检测成果除掉Micro LED芯片不良品。

LEDinside 研讨协理储于超指出,Micro LED 显现器出产成本大部分源自于修正与巨量搬运,乃至标明假如要达到更高良率,要害仍在于整个制程的进步,从磊晶硅晶圆片到巨量搬运。(文:LEDinside)


更多LED相关资讯,请点击LED网或重视微信大众账号(cnledw2013)。

共享到: 新浪微博 腾讯微博
打印】【保藏】 【仿制链接给老友
最新引荐
人物访谈
关于咱们会员服务广告服务采购商服务投诉主张在线投稿周刊订阅联络咱们友情链接
LED网版权一切